Productgroep
Merk
MIT
14 Diktemeting (5 artikelen)
Prev[1]Next
Toon: Grid Sorteer op:
MIT607-100 MIT-SCAN-T3: Laagdiktemeter MIT-scan-T3 laagdikte meetinstrument Volgens EN 12697-36 §4.2 ( en SB250) - meetbereik tot 50 cm diepte - inzetbaar op asfalt en beton - meetduur met opgeladen batterijen: 8 uur tot 1000 metingen - GPS module - batterijlader - Lader voor gebruik in de auto - Batterij 12 V/2 Ah (geïnstalleerd) - draagriem - Handleiding - USB flash drive - MIT Software Project - draagkoffer Wordt compleet geleverd met: GPS-module, batterij oplader, oplader voor in de wagen, batterijen 12B/2Ah, draagriem, handleiding, USB flash drive, Software, transportkoffer, kalibraties voor AL RO 07 / AL RO 12 en AL RO 30), certificaat Verdeling enkel voor België https://drive.google.com/file/d/1hbGLYDIHYXCebxU7YOpbv22ULO8MUEVT/view https://drive.google.com/file/d/19g_u5FagOG2arjrwJtV04JzTQKw000YR/view Technische fiche: Introductie Het niet-destructief meetsysteem van MIT is een kostenefficiënte methode die nauwkeurige laagdiktebepalingen op asfalt- en betonwegen uitvoert. Het biedt belangrijke gegevens die nodig zijn voor de berekening van constructiekosten alsmede om de kwaliteit en levensduur van het wegdek te waarborgen. Om elektromagnetische laagdiktebepalingen te kunnen uitvoeren, dienen reflectoren te worden aangebracht in de verharding. De elektromagnetische laagdiktebepaling wordt dus gebruikt als er nieuwe wegen worden gebouwd en wanneer wegverhardingen worden vernieuwd waar reflectoren reeds zijn geplaatst. Deze reflectoren zijn met de MIT-SCAN-T3 zeer eenvoudig terug te vinden met behulp van de detectiefunctie van het apparaat. De software in de MIT-SCAN-T3 is zeer gebruiksvriendelijk. Het apparaat weegt slechts 3 kg en wordt geleverd in een duurzame en beschermende koffer. Alle soorten verhardings materialen die worden gebruikt in de bouw en wegenbouw werken (bitumineuze composieten, beton of mengsels met hoogovenslakken) kunnen niet-destructief worden gemeten met de MIT-SCAN-T3.De innovatieve technische oplossing in niet-destructieve meettechnologie biedt een instrument voor het combineren van kwaliteitsborging met winstgevendheid. De nieuwe technologie biedt de kans om de wegenbouwprojecten te optimaliseren en in de kosten in de uitvoering te snijden. De technologie die wordt gebruikt in de MIT-SCAN-T3 wordt beschermd door verschillende patenten. Principe Het laagdikte bepalingsapparaat MIT-SCAN-T3 maakt gebruik van een gepulste inductiemethode op basis van elektromagnetische kringstroomtechnologie. Deze technologie heeft een hoge immuniteit tegen ruis. De mogelijkheid om data voor een aantal fysische parameters te verkrijgen in een meting verbetert de kwaliteit en geldigheid van de meetresultaten.Meetgegevens worden verzameld door een gedefinieerde passage over de reflector. Tijdens een passage worden tot 150 plaatsafhankelijke meetpunten verzameld door elk van de vier ontvangende sensoren. De ontvangen signalen hangen af van de relatieve positie van het instrument ten opzichte van de reflector evenals de vorm, grootte en samenstelling van de reflector. De relatie tussen elk van deze invloeden en het meetsignaal worden precies vastgesteld tijdens de kalibratie en geïmplementeerd in de firmware van de instrumenten.Vanwege het grote aantal afzonderlijke bepaalde meetpunten is de behaalde nauwkeurigheid beter dan die verkregen door andere methoden. Reflectoren De reflectoren die gebruikt worden zijn speciaal gemaakt voor de MIT-SCAN-T3 en zijn van een speciale legering. Het gebruik van andere reflectoren dan de officiële, geeft grote kans op afwijkingen in de metingen. De reflectoren zijn verkrijgbaar in verschillende diameters en materialen, de keuze hiervan is afhankelijk van de diepte en type van het materiaal waarop men wil meten. De verschillende diameters, materiaaltypes en de bijbehorende meetdieptes kunt u vinden in het informatieblad MIT-SCAN-T3 MIT607-100
MIT607-100
v
MIT507-702 Aluminium wegdekreflectors dia 12 cm voor laagdikte meting MIT SCAN Aluminium wegdekreflectors dia 12 cm voor laagdikte meting Meetdiepte 15 - 180 mm MIT707-104
MIT507-702
v
MIT507-703 Aluminium wegdekreflectors dia 30 cm voor laagdikte meting MIT SCAN Aluminium wegdekreflectors dia 30 cm voor laagdikte meting Meetdiepte 40 - 350 mm MIT707-104
MIT507-703
v
MIT507-701 Aluminium wegdekreflectors dia 7cm voor laagdikte meting MIT SCAN Aluminium wegdekreflectors dia 7cm voor laagdikte meting Meetdiepte 15 - 120 mm MIT707-104
MIT507-701
v
MIT707-104 Stalen schijven dia 30 cm voor laagdikte meting in betonwegen MIT SCAN Staal schijven dia 30cm voor laagdikte meting in betonwegen Meetdiepte 40 - 350 mm MIT707-104
MIT707-104
v
Prev[1]Next